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全自动测量：测量、计算、数据处理和3D图形输出完全自动化，大大提高了测量效率和准确性。
大样品尺寸测量：样品尺寸可达300mm，可容纳多个样品，能够绘制**300mm见方的样品并连续测量多个样品。
多种测量方式：可以通过三种方式进行测量位置设置：网格输入、直线输入和顺序输入。
宽测量范围：可连接到Loresta GX，测量范围为10⁻⁴至10⁷Ω。
比较器功能：在屏幕上标注范围外的测量结果的测定点。
粉末测量功能：要测量粉末的体积电阻率，只需将样品放入探头单元并将其放置在设备中即可。该装置施加给定的压力，同时测量粉末的电阻率和压制密度。
测量范围：10⁻²至10⁶Ω。
样品尺寸：**300mm见方。
应用领域广泛：适用于金属、金属薄膜、导电涂层、导电薄膜、片材等多种材料的电阻率测量。
膜厚和成分变化检测：导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。
电子元件和材料开发：可用于电子元件和材料的开发和质量控制。
